检测项目
屏蔽效能测试：
- 电场屏蔽效能：30MHz-18GHz频段SE_E≥70dB（参照IEEE299.1）
- 磁场屏蔽效能：50Hz-30MHz低频SE_H≥40dB（IEC61000-5-7）
- 平面波屏蔽效能：1GHz-40GHz频段SE_PW≥60dB（ASTMD4935-18）
材料本征参数：- 电导率测试：DC-1MHz范围导电率≥5.8×10⁷S/m（四探针法GB/T3048.2）
- 复磁导率测量：10MHz-6GHz频段μ'≥200,μ"≤50（同轴测试法IEC60404-15）
- 介电常数测试：1MHz-10GHz频段ε'≤5,tanδ≤0.05（谐振腔法GB/T12636）
结构完整性验证：- 接缝泄漏测试：10GHz缝隙≤0.5mm时SE衰减≤3dB（MIL-STD-188-125）
- 通风孔径屏蔽：孔径直径≤λ/10时SE≥30dB（IEEE299-2006）
- 导电衬垫压缩形变：压缩率25%-30%接触电阻≤10mΩ（ASTMF963）
环境适应性：- 温度循环试验：-40℃至+85℃循环20次SE衰减≤10%
- 盐雾腐蚀测试：96小时中性盐雾后电导率下降率≤15%（GB/T10125）
- 机械振动验证：10-500Hz/5g振动1小时结构无失效（GB/T2423.10）
表面转移阻抗：- 线缆屏蔽层阻抗：100kHz频率Z_T≤20mΩ/m（IEC62153-4-3）
- 连接器屏蔽效能：3GHz频率SE≥90dB（MIL-DTL-38999Sec.4.8.19）
电磁密封性测试：- 近场磁场屏蔽：10kHz-30MHzH场衰减≥40dB（SAEARP1173）
- 屏蔽室屏蔽效能：150kHz-18GHzSE≥100dB（GB/T12190-2021）
时域脉冲屏蔽：- EMP防护效能：上升时间2.5ns脉冲衰减≥50dB（IEC61000-4-32）
- ESD屏蔽性能：接触放电±8kV壳体无穿透（GB/T17626.2）
各向异性分析：- 屏蔽方向均匀性：三维方向SE差异≤5dB（ASTME1851）
- 复合材料层间导电：Z轴电阻率≤0.1Ω·cm（四探针法GB/T15738）
非线性特性：- 强场磁饱和阈值：H≥8000A/m时μ下降至初始值80%
- 频率依赖特性：1-40GHz频带内SE波动范围≤±3dB
屏蔽稳定性：- 湿热老化试验：40℃/93%RH168小时SE衰减≤3dB
- 臭氧腐蚀测试：200pphm浓度曝露96小时屏蔽层无龟裂
检测范围
1.金属屏蔽材料：铜箔/铝箔/镀锌钢板，重点检测基材电导率及表面氧化层对射频阻抗的影响
2.导电高分子复合材料：碳纤维填充PP/ABS，侧重导电网络连续性及注塑工艺对逾渗阈值的影响
3.电磁屏蔽织物：金属化涤纶/混纺银纤维，核心验证洗涤耐久性及弯曲疲劳后的屏蔽衰减
4.导电涂层体系：银铜导电漆/镍基喷涂，检测膜厚均匀性（±5μm）与附着力（划格法1级）
5.金属化薄膜屏蔽材料：真空镀铝PET/溅射铜PI，重点测试镀层结合力和折叠开裂阈值
6.导电泡棉衬垫：硅橡胶芯包覆金属织物，验证不同压缩比下的表面转移阻抗稳定性
7.屏蔽通风窗：波导通风板/金属丝网，检测截止频率设计精度与通风率≥40%的兼容性
8.导电粘接剂：银环氧树脂/导电胶带，测试体积电阻率（≤10-4Ω·cm）及高温老化后性能衰减
9.多层板屏蔽结构：PCB内置屏蔽层，验证过孔阵列屏蔽效能及层间绝缘隔离度≥100MΩ
10.金属机柜组件：钣金焊接/铆接壳体，重点检测门缝电磁泄漏及接地连续性（≤0.1Ω）
检测方法
国际标准：
- IEEE299.1-2021屏蔽外壳高频屏蔽效能测量
- ASTMD4935-18平面波电磁屏蔽材料效能测试
- IEC61000-5-7:2021低频磁场屏蔽效能测试
- ISOJianCe52-2:2004带状线法材料屏蔽特性测试
- SAEARP1173:2019航空电子设备磁屏蔽验证
国家标准：- GB/T12190-2021电磁屏蔽室屏蔽效能测量
- GB/T30142-2013平面型电磁屏蔽材料测试
- GB/T17626.3-2016射频电磁场辐射抗扰度
- GJB6190-2008军用屏蔽机房通用规范（等效MIL-STD-188）
- GB/T25085-2020道路车辆电磁屏蔽材料测试
（方法差异说明：ASTMD4935采用法兰同轴夹具测试平面材料，频段覆盖30MHz-1.5GHz；GB/T30142扩展至1.5GHz-8GHz并增加斜入射测试要求。IEC61000-5-7使用亥姆霍兹线圈测低频磁场，而SAEARP1173要求采用双环法模拟航空设备环境）
检测设备
1.矢量网络分析仪：KeysightN5227B（频率10MHz-67GHz，动态范围140dB）
2.屏蔽效能测试系统：EM-2100型（符合IEEE299.1，30MHz-18GHz）
3.法兰同轴测试夹具：DN10J40-6.0（ASTMD4935标准，内径83mm）
4.材料电磁参数测试仪：Agilent85072A（1MHz-3GHz复介电/磁导率测量）
5.低频磁场屏蔽测试台：HMS-3000（IEC61000-5-7，DC-30MHz）
6.导电率测试仪：SDY-4D型四探针仪（电阻率测量范围10-8~106Ω·cm）
7.屏蔽室泄漏扫描仪：EMC-3030（1GHz-40GHz步进0.1dB精度）
8.时域脉冲发生器：EMP-2000（上升时间2ns，电压幅值0-50kV可调）
9.表面转移阻抗测试仪：STI-1000（IEC62153-4-3，10mHz-1GHz）
10.精密三轴磁场探头：HFP-046（频率DC-30MHz，分辨率1nT）
11.环境试验箱：GDW-100L（温控范围-70℃~+180℃，湿度10-98%RH）
12.盐雾腐蚀箱：YWX-1500（符合GB/T10125，喷雾量1.5mL/80cm²·h）
13.振动试验系统：VTS-200（推力20kN，频率5-3000Hz）
14.扫描电子显微镜：SU5000（分辨率3nm，EDS元素分析）
15.膜厚测量仪：XJianCeM5000（测量范围0.01-1000μm，精度±0.5%）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作，并获得众多好评；
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领；
3、坚持科学发展道路，统筹实验建设与技术人才培养共同发展；
4、学习贯彻人大精神，努力发展自身科技实力。
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